Сотрудники Института физики полупроводников СО РАН разработали стандарт для замера уровня плоскости, который можно будет использовать в процессе регулировки сверхточных аппаратов, используемых в области нанотехнологий. Об этом сообщил ведущий научный сотрудник Института Сергей Косолобов.

Он отметил, что разработка стандартов для отладки и калибрования оборудования является одной из первостепенных задач для сферы нанотехнологий. Но на текущий момент такие стандарты в мире еще не существуют. Поэтому разработанный новосибирскими учеными эталонный объект можно с полным правом назвать уникальным.

Интересно, что изначально ученые не собирались создавать единицу для измерения нанотехнологий, они решали другую проблему – разработку совершенно гладкой поверхности. Также исследователи пытались понять, могут ли они проконтролировать трансформацию атомов в случае введения всевозможных изменений в состав поверхности.

В итоге физики сумели создать поверхность, не содержащую так называемые «атомные ступени». Затем ученые начали экспериментировать, расставляя на полученной плоскости различные комбинации «атомных ступеней» и неожиданно вывели уникальный стандарт для измерения высоты.